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梅特勒托利多 电极INLAB 413/IP67 ELECTRODE
电极由于采用固体 XEROLYT® 参比电解质,无需玻璃膜液络部,避免电极堵塞物料号: 52000379规格 - 电极INLAB 413/IP67 ELECTRODE测量范围pH 0–14温度范围0
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X荧光镀层测厚仪 Thick 600
测量 技术指标 型号:THICK600 分析范围: Ti-U,可分析zei高3层15个元素 分析厚度:一般0.05-30um(不同元素厚度有所不同
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梅特勒托利多 针刺型pH电极LE427 pH ELECTRODE
其他传感器。找到最适合您应用的传感器: www.mt.com/electrode-guide物料号: 51340333规格 - 针刺型pH电极LE427 pH ELECTRODE测量范围pH 1–11
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X荧光镀层测厚仪 Thick 800A
Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。
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气体渗透法POROMETER 3G安东帕 Krypton Gas Adsorption for Thin Film Pore Size Analysis
点击查看下载气体渗透法POROMETER 3G安东帕 Krypton Gas Adsorption for Thin Film Pore Size Analysis相关资料,进一步了解产品
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天瑞仪器X荧光镀层测厚仪Thick800A
产品说明、技术参数及配置仪器介绍Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上
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Film Sense FS-1™多波长椭偏仪
Film Sense FS-1™多波长椭偏仪Film Sense FS-1™多波长椭偏仪采用寿命长 LED 光源和非移动 式部件椭偏探测器,可在操作简单的紧凑型椭偏仪中实现快速和可 靠地薄膜测量
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全自动和孔径分布分析仪比表面Autosorb-iQ Krypton Gas Adsorption for Thin Film Pore Size Analysis
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X荧光镀层测厚仪 天瑞仪器Thick 600 可检测废气
天瑞仪器X荧光镀层测厚仪 Thick 600用于测定废气、废水、废渣,符合行业标准RoHS 2.0指令。适用分析电镀产生的废气、废水、废渣项目。 Think600是集天瑞仪器多年镀层测厚
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天瑞仪器Thick 680X荧光光谱仪
Thick 680 是天瑞根据多年的贵金属检测技术和经验,以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属的成分检测的需要,人性化的设计,使测试工作更加轻松完成。
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